粉体行业在线展览

产品

产品>

粉体测试设备>

扫描电镜

>赛默飞(原FEI)发射扫描/透射电子显微镜

赛默飞(原FEI)发射扫描/透射电子显微镜

F200i S/TEM

直接联系

北京欧波同光学技术有限公司

捷克

产品规格型号
参考报价:

面议

品牌:

赛默飞

型号:

F200i S/TEM

关注度:

4420

产品介绍

产品描述

  Thermo Scientific Talos F200i S/TEM 是赛默飞**的用于高分辨率成像和分析应用的场发射扫描/透射电子显微镜,其电压范围为20到200 kV,是专为满足各种材料科学样品和样品的性能和效率而设计的。现可提供对称布置的双100 mm2 Racetrack 检测器“( Dual-X”),以**限度提高分析通量。 
Talos F200i标准的 X-TWIN 物镜极靴间距在应用中具有**灵活性,结合高再现性能的镜筒设计,可支持高分辨率二维和三维表征分析、原位动态观测及电子衍射应用。Talos F200i 还配备了 4k × 4k Ceta 16M 相机,可在 64 位平台上提供大 视场、高灵敏度快速成像。
    Talos F200i S/TEM 专为多用户和多学科环境设计,并配备了可在所有赛默飞 TEM 平台使用的Thermo Scientific™ Velox™ 用户界面,对于新用户来说也非常友好。此外,所有 TEM 日常调整都已经自动化,以提供**并可重复的日常设置。自动调节功能简化了初学者的学习过程,减少了多用户环境中的紧张关系,并使有经验的操作员可以在较短时间内获取数据信息。

产品参数

产品参数

TEM 线分辨率

 0.10 nm

LACBED **会聚角

 100 mrad

**衍射角

24°

STEM 分辨率

 0.16 nm

EDS

侧插式,可伸缩

电子枪类型

场发射枪或高亮度场发射枪



样品操作

Z 动总行程 (标准样品杆)

± 0.375 mm

三维重构样品杆** α 倾转角 (高视野样品杆)

± 90°

样品漂移 (标准样品杆)

 0.5 nm/min

特色与用途

关键优势

EDS 技术可实现。从单 30 mm2 探头到可实现高通量 (或低剂量)分析的双 100 mm2 探头,可根据您的需求

选择*理想的 EDS

高质量 S/TEM 图像和准确的 EDS借助创新直观的 Velox 软件用户界面,可通过极其简单的操作方法,获得 高质量 TEM S/TEM 图像。Velox 软件内置的特有的 EDS 吸收校准功能可实现*精确的定量分析

**的原位动态分析功能。加装三维重构或原位分析样品杆高速相机、智能软件 X-TWIN 物镜间距可实现三维成像和原位数据采集,同时**限度避免分辨率和分析能力的损失

提高生产效率。超稳定镜筒设计;借助 SmartCam 实现远程操作;物镜功率恒定,可实现快速电镜模式和高压切换并可轻松快速切换多用户环境

**可重复性的可靠数据。所有日常 TEM 合轴例如聚焦、心高度调节、电子束偏转、聚光镜光阑对中、电子束倾斜枢轴点以及旋转中心调整都是自动完成确保用户总是**成像条件开始。实验可多次重复因而用户可以更多关注研课题不再纠结于电镜操作 

快速大视成像。大视场的 4k × 4k Ceta CMOS 相机可以在整个高压范围实现高灵敏度、高速实时数字变焦

紧凑型设计。本设备具有更小的尺寸和占地面积,便在更具挑战性的较小空间内安装,同时有助于维修和降低安装和维护成本 


产品咨询

赛默飞(原FEI)发射扫描/透射电子显微镜

F200i S/TEM

请填写您的姓名:*

请填写您的电话:*

请填写您的邮箱:*

请填写您的单位/公司名称:*

请提出您的问题:*

您需要的服务:

发送

中国粉体网保护您的隐私权:请参阅 我们的保密政策 来了解您数据的处理以及您这方面享有的权利。 您继续访问我们的网站,表明您接受 我们的使用条款

赛默飞(原FEI)发射扫描/透射电子显微镜 - 4420
北京欧波同光学技术有限公司 的其他产品

FLOW

扫描电镜
相关搜索
关于我们
联系我们
成为参展商

© 2024 版权所有 - 京ICP证050428号

联系电话
关闭
虚拟号将在180秒后失效,请在有效期内拨打
为了保证隐私安全,平台已启用虚拟电话,请放心拨打.(暂不支持短信)
使用微信扫码拨号
是否已沟通完成
您还可以选择留下联系电话,等待商家与您联系
*需求描述:
*单位名称:
*联系人:
*联系电话:
Email:
(请留下您的联系方式,以便工作人员及时与您联系!)