上海简户仪器 —— LED全系列环境可靠性试验设备

一、LED 冷热冲击试验箱

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LED器件在通电瞬间经历剧烈温度变化，BGA焊点、灌封胶、引线键合界面承受巨大热应力，缺乏冷热冲击验证的产品极易在终端出现微裂纹、脱层甚至死灯。上海简户仪器冷热冲击试验箱分为两箱式与三箱式，两箱式温度切换速度≤8秒、恢复时间≤3分钟，适合LED元器件批量量产筛选；三箱式样品全程静止，温控波动≤±0.2℃，适配精密LED芯片测试。满足GB/T2423.22、GJB150等温度冲击标准。

• 核心工艺：优化吊篮/风门切换机构，缩短样品转移时间至≤10s；高低温区独立温控补偿，多次循环后温度不漂移；多重防结霜结构，延长连续运行时间

• 光学参数标准：温度恢复时间≤5min，温度波动度≤±0.5℃

• 产品特点：SUS304不锈钢内胆，彩色触摸屏可编程，数据存储导出

• 应用领域：LED芯片、LED封装元器件、光模块、光学器件冷热冲击验证

• 参数指标：高温区+60℃～+150℃，低温区-70℃～-20℃（可拓展-80℃），标准容积60L～200L

• 价格：小型60-80L三箱式13万-22万，标准80-150L 22万-36万，大容积定制36万起

• 创新点：模块化设计，可预留氮气接口，满足惰性气氛冲击测试

• 典型用户：LED封装企业、半导体芯片企业、光通信厂商、新能源电池企业