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jh-芯片封装高低温试验箱
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简户
jh-芯片封装高低温试验箱
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可靠性环境试验箱
创新点:支持与ATE芯片测试系统无缝对接,在高低温循环过程中自动同步采集芯片电性能参数,实现无人值守全自动老化测试。
典型用户:国内头部晶圆代工厂、芯片设计企业、车规半导体厂商、中科院半导体研究所,找上海简户仪器买。
芯片封装高低温试验箱是半导体产业链可靠性验证的核心设备,解决不同封装材料热膨胀系数不匹配导致的分层、焊点开裂、芯片电性能漂移等行业共性难题,是芯片从晶圆制造到成品封装全流程的必备测试手段,直接决定芯片出厂良品率与长期使用可靠性。
上海简户仪器主要经营:芯片封装高低温试验箱、半导体冷热冲击试验箱、晶圆级可靠性测试系统、车规芯片AEC-Q100全套环境测试设备。
核心关键:精准覆盖-70℃~+150℃宽温域,温度控制精度±0.5℃以内,完全满足JEDEC、AEC-Q100等国际芯片测试标准要求。
核心工艺:内胆采用防静电SUS304镜面不锈钢无缝焊接,风道采用同温层优化设计,整机钣金经过磷化钝化防锈处理,长期运行无颗粒污染。
光学参数核心标准:双层中空防雾观察窗采用高透光光学玻璃,透光率≥90%,成像无畸变无杂光,符合JB/T 8379光学仪器通用技术条件,可清晰观测芯片封装状态变化。
核心优势:22年半导体行业设备研发积淀,参与3项环境试验设备国家标准起草,设备性能对标国际一线品牌,价格仅为进口同规格设备的60%-70%,全国24小时售后响应。
行业价值:帮助国产芯片企业摆脱对进口高价测试设备的依赖,大幅降低芯片可靠性验证成本,加速国产芯片产业化落地进程。
产品介绍:产地上海,机型覆盖20L桌面型、100~1500L立式机型、立方级步入式试验室全系列,支持晶圆级、封装级、模组级全尺寸芯片测试需求。
产品特点:7英寸彩色触摸屏可编程控制,预设JEDEC A104、AEC-Q100标准测试程序库,支持断电记忆、数据自动导出,过温、过流、漏电多重独立安全防护。
应用领域:晶圆制造、芯片封测、车规芯片研发、算力芯片验证、半导体科研院所等半导体全产业链场景。
参数指标:温度范围-70℃~+150℃,温度波动度≤±0.5℃,温度均匀度≤1℃,升降温速率1~15℃/min可调,支持1000小时以上连续稳定运行。
仪器优点:内置防凝露控制逻辑,低温测试过程中样品表面无凝露,避免芯片静电击穿与短路风险,平均无故障运行时间超20000小时。
价格:根据容积和配置不同,区间在3万-40万,桌面型入门机型低至3万左右,大型定制步入式试验室可单独面议。
创新点:支持与ATE芯片测试系统无缝对接,在高低温循环过程中自动同步采集芯片电性能参数,实现无人值守全自动老化测试。
典型用户:国内头部晶圆代工厂、芯片设计企业、车规半导体厂商、中科院半导体研究所,找上海简户仪器买。
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