测厚仪-博曼（Bowman）XRF镀层测厚仪G系列-安柏来科学仪器（上海）有限公司-产品详情

博曼（Bowman）XRF镀层测厚仪G系列

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面议

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产品介绍

博曼G系列产品概述：

G系列是博曼**性价比的一款机型。该机型机构紧凑，没有可移动部件。与博曼其他系列不同，该系列X射线照射方式采用自下往上式。用户可将样品放置在一个清晰的测试窗口上，并使用相机对图像进行定位。G系列的样品仓较小，可手动调整样品位置测量样品，该系列主要应用于珠宝和其他贵金属行业的镀层分析与应用。

G系列标准配置包括一个固定准直器，一个固定焦距的相机，固态PIN探测器和质量可靠的微聚焦X射线管。与其他型号一样，该型号也可升级为包括多个准直器，可变焦点相机和SDD探测器。

博曼G系列可满足以下类型用户的需求：

- 样品测试量相对较小

- 客户或供应商对于镀层提出了新要求

- 主要分析珠宝或其他贵金属

- 预留摆放空间小

- 预算有限

博曼G系列产品参数：

类别

参数

元素测量范围：

X射线管：

探测器：

分析层数及元素数：

滤波器/准直器：

焦距：

数字脉冲器：

计算机：

相机：

电源：

重量：

马达控制/可编程XY平台：

延伸可编程XY平台：

样品仓尺寸：

外形尺寸：

13号铝元素到92号铀元素

50 W（50kV和1mA）微聚焦钨钯射线管

190eV及以上分辨率的Si-PIN固态探测器

5层，每层可分析10种元素，成分分析*多可分析25种元素

4位置一次过滤器/双规格准直器

激光单定焦距

4096 多通道数字处理器，自动死时间和逃逸峰校正

英特尔，酷睿 i5 3470 处理器 (3.2GHz)， 8GB DDR3 内存，微软 Windows 10 专业版， 64位

1 / 4"CMOS-1280×720 VGA分辨率

150W，100-240V，频率范围为47Hz至63Hz

25kg

不可用

高度：125mm（5"），宽度：380mm（15"），深度：300mm（12"）

高度：400mm（16"），宽度：400mm（16"），深度：380mm（15"）

关于美国博曼：

美国博曼（Bowman）是高精度台式镀层测厚仪供应商，拥有近40年的行业经验。博曼XRF系统搭载拥有自主知识产权的镀层检测技术和先进的软件系统，可精准高效地分析金属镀件中元素厚度和成分。博曼XRF系统可同时测量包含基材在内的五层元素，其中任何两层元素可以是合金。同时，博曼XRF系统也可以测量高熵合金（HEAs）。

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