这款四点探针系统是一款易于使用的工具，用于快速测量材料的薄层电阻，电阻率和电导率。通过使用我们自己的源测量单元，我们能够创建一个低成本的系统，使测量范围更广泛。探头采用弹簧加载接触，而不是尖锐的针头，防止损坏精密样品，如厚度在纳米左右的聚合物薄膜。

四点探针系统为您的研究提供以下益处：

?广泛的薄膜电阻测量范围，从10mΩ/□到10MΩ/□

?弹簧加载的探针保护易损的样品免受损坏

?体积小巧，可用于空间有限的繁忙实验室

?易操作的PC软件，用于薄膜电阻，电阻率和电导率的测量

?使用自动校正因子计算加快材料表征

?使用保存设置可轻松重复测量

特征：

广泛的测量范围 - 四点探头能够提供10 nA-100 mA的电流，并且可以测量低至100μV-10 V的电压。广泛的薄层电阻测量范围，从10mΩ/□到10MΩ/□，可表征多种材料。

非破坏性测试 - 设计时考虑到了精密样品的测量，四点探头采用镀金弹簧接触圆头， 60克的恒定接触力，防止探针刺破脆弱的薄膜，同时仍能提供良好的电接触。

节省空间的设计 - 通过垂直堆叠组件，我们能够将四点探头的占地面积降至*低（总台面面积12 cm x 30 cm），甚至可以在缺乏货架空间的实验室中使用。

易于使用 - 只需插入系统，安装软件，即可开始使用！直观的界面和清洁的设计，简化了薄膜电阻的测量。

快速材料表征 - PC软件可执行薄膜电阻，电阻率和电导率所有必要的测量和计算，从而使材料表征变得毫不费力。

不要忘记保存您的实验数据 - 用于测量的设置会与数据一起保存，从而轻松查看实验的详细信息。此外，这些设置文件可以通过相同的软件加载，加快重复测量和材料表征。用更少的时间重复测量，您的研究成果可以显着增加

应用示例：

材料特性 - 电阻率是材料的固有特性，也是重要的电学特性。它可以通过测量已知厚度的薄膜薄层的电阻来确定，这使得四点探针测量成为材料电特性的关键技术。

薄膜太阳能电池和发光二极管 - 薄膜器件（如钙钛矿太阳能电池或有机发光二极管）需要薄的导电电极，横向输送电荷以进行提取。因此，需要低表面电阻材料来减少这个阶段的潜在损失。当试图放大这些设备时，这变得更加重要，因为电荷在它们可被提取之前，不得不沿着电极方向行进。

测量规格