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静态容量法孔隙率测定仪JW-BK技术参数如下：
主要功能：孔隙率测定仪可实行BET比表面（多点及单点）测试，Langmuir比表面测试，炭黑外
比表面测定，吸附、脱附等温曲线测定，BJH孔径分布、
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4045 | 北京 | 给我留言 |
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静态容量法孔径分布测量仪JW-BK技术参数如下：
主要功能：孔径分布测量仪可实行BET比表面（多点及单点）测试，Langmuir比表面测试，炭黑外
比表面测定，吸附、脱附等温曲线测定，BJH孔径分
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3515 | 北京 | 给我留言 |
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静态容量法孔径分布检测仪JW-BK技术参数如下：
主要功能：孔径分布检测仪可实行BET比表面（多点及单点）测试，Langmuir比表面测试，炭黑外
比表面测定，吸附、脱附等温曲线测定，BJH孔径分
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3530 | 北京 | 给我留言 |
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静态容量法孔容积分析仪JW-BK技术参数如下：
主要功能：孔容积分析仪可实行BET比表面（多点及单点）测试，Langmuir比表面测试，炭黑外
比表面测定，吸附、脱附等温曲线测定，BJH孔径分布、
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5996 | 北京 | 给我留言 |
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静态容量法孔隙度分析仪JW-BK技术参数如下：
主要功能：孔隙度分析仪可实行BET比表面（多点及单点）测试，Langmuir比表面测试，炭黑外
比表面测定，吸附、脱附等温曲线测定，BJH孔径分布、
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3975 | 北京 | 给我留言 |
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分析方法
比表面测定：BET（单点、多点）比表面，Langmuir比表面，外表面测定；
BJH孔径分布测定：总孔体积、平均孔径、孔容/孔径的微分与积分分布；
微孔常规分析：微孔总孔体积、总内表面
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4534 | 北京 | 给我留言 |
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静态容量法孔径分布测定仪JW-BK技术参数如下：
主要功能：孔径分布测定仪可实行BET比表面（多点及单点）测试，Langmuir比表面测试，炭黑外
比表面测定，吸附、脱附等温曲线测定，BJH孔径分
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5103 | 北京 | 给我留言 |
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静态容量法孔径检测仪JW-BK技术参数如下：
主要功能：孔径检测仪可实行BET比表面（多点及单点）测试，Langmuir比表面测试，炭黑外
比表面测定，吸附、脱附等温曲线测定，BJH孔径分
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4150 | 北京 | 给我留言 |
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静态容量法孔径分析仪JW-BK技术参数如下：
主要功能：孔径分析仪可实行BET比表面（多点及单点）测试，Langmuir比表面测试，炭黑外
比表面测定，吸附、脱附等温曲线测定，BJH孔径分布、总孔
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8881 | 北京 | 给我留言 |
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一、孔容积测定仪技术参数如下：
主机功能孔容积测定仪：
（1）单点及多点孔容积测定仪，并可测定吸附常数C值
（2）直接对比法孔容积测定仪快速测定
（3）Langmuir孔容积测定仪
测定范围
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4273 | 北京 | 给我留言 |
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一、比表面分析仪技术参数如下：
主机功能比表面分析仪：
（1）单点及多点比表面分析仪，并可测定吸附常数C值
（2）直接对比法比表面分析仪快速测定
（3）Langmuir比表面分析仪
测定范围
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4075 | 北京 | 给我留言 |
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一、比表面测试仪技术参数如下：
主机功能比表面测试仪：
（1）单点及多点比表面测试仪，并可测定吸附常数C值
（2）直接对比法比表面测试仪快速测定
（3）Langmuir比表面测试仪
测定范围
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6405 | 北京 | 给我留言 |
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分析方法
比表面测定：BET（单点、多点）比表面，Langmuir比表面，外表面测定；
BJH孔径分布测定：总孔体积、平均孔径、孔容/孔径的微分与积分分布；
微孔常规分析：微孔总孔体积、总内表面
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5353 | 北京 | 给我留言 |
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一、比表面积分析仪技术参数如下：
主机功能比表面积分析仪：
（1）单点及多点比表面积分析仪，并可测定吸附常数C值
（2）直接对比法比表面积分析仪快速测定
（3）Langmuir比表面积分析仪
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7551 | 北京 | 给我留言 |
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一、比表面积检测仪技术参数如下：
主机功能比表面积检测仪：
（1）单点及多点比表面积检测仪，并可测定吸附常数C值
（2）直接对比法比表面积检测仪快速测定
（3）Langmuir比表面积检测仪
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5653 | 北京 | 给我留言 |
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产品特点发明专利发明专利DX型仪器，不采用常规的脱附过程而采用吸附过程进行峰面积计算，完全避免了常温下样品可能脱附不完全带来的测试误差，非常适合三元材料、石墨等电池正负极材料小比表面的测定；（专利号2
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6712 | 北京 | 给我留言 |
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W-04型动态快速比表面测定仪精微高博比表面仪具有动态直接对比法比表面快速测定，设计精巧，使用方便，适合生产在线检测。比表面测定仪功能直接对比法快速测定比表面比表面测定仪技术参数比表面测定仪测定范围：
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8153 | 北京 | 给我留言 |
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一、比表面积仪技术参数如下：
主机功能比表面积仪：
（1）单点及多点比表面积仪，并可测定吸附常数C值
（2）直接对比法比表面积仪快速测定
（3）Langmuir比表面积仪
测定范围：（1）比
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5057 | 北京 | 给我留言 |
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JW-BK222基础型比表面积及孔径分布，是表征微纳米粉体材料表面物性及孔结构的重要参数之一，常用、可靠的方法是静态容量法气体吸附。JW-BK基础型系列全自动比表面及孔径分析仪即能准确可靠解决粉体材料
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10163 | 北京 | 给我留言 |
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除尘配件除尘配件除尘配件除尘配件泊头市鑫泰集团除尘器加工厂专业生产除尘器,除尘配件,除尘设备,布袋除尘器,静电除尘设备,湿式除尘配件等.除尘设备,滤袋,框架,专用配件脉冲控制仪,电磁阀电气控制柜,卸料
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7320 | 本厂 | 给我留言 |
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