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激光粒度仪

MS2000/NANOS/ZS

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MS2000/NANOS/ZS

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产品介绍

技术参数 1.粒度测定范围:0.6nm-6000nm 2.浓度范围:0.1ppm-40%(W/v) 3.高分辨Zeta电位分析:可分辨5mV的Zeta电位差别 4.粒度测定范围:0.02nm-2000um 5.温度控制范围:2-90度 -------------------------------------------------------------------------------- 主要特点 1.具有*低的纳米粒度下限:可测量亚纳米区及高分子大小 2.具有*宽的浓度应用范围:0.1ppm – 40% (w/v)。*少样品量仅0.75ml。 3.独有的高分辨Zeta电位技术:可轻易发现污染物,并可测定高盐浓度及极低迁移率的样品 4.可对分子量进行测定,包括旋转半径和第二维里系数 5.**具有标准操作规程(SOP)的纳米粒度分析仪器。可随时间及温度变化进行趋势分析;与自动滴定仪相连接后,可自动测定粒度、Zeta电位随pH、盐浓度和电导率变化的,自动测定分子量 -------------------------------------------------------------------------------- 仪器介绍 [下载样本] 2003年5月推出的Zetasizer Nano系列纳米粒度和 Zeta电位分析仪是在2000年7月问世的Zetasizer HS系列和 2001年9月问世的HPPS的基础上发展起来的,它不仅继承了 原有仪器的鲜明特点(如测量范围宽,浓度应用范围广,高分 辨Zeta电位,APD检测器等),而且还发展了许多其它功能,包括 分子量测定,旋转半径,第二维里系数测定,SOP,和随时间及温度的 趋势分析等。Zetasizer Nano ZS作为该系列中的**配置,与自动滴定系统相连后,还可自动进行粒度、Zeta电位和分子量分析,尚无其它厂家仪器可与之匹敌。

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