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全自动型原子力显微镜

AFM5500M

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日立高新技术公司.

日本

产品规格型号
参考报价:

100-150万元

品牌:

日立

型号:

AFM5500M

关注度:

6701

范围(量程或细度):

创新点:

高度集成自动化功能追求高效率检测
降低检测中的人为操作误差
排除机械原因造成的误差
亲密融合其他检测分析方式

应用行业:

石墨烯/SiO2、太阳能电池、硅片上的非晶硅薄膜等

典型用户:

石墨烯/SiO2、太阳能电池、硅片上的非晶硅薄膜等

产品介绍

参考报价:


 面议

型号:

  AFM5500M

品牌:

 日立

产地:

 日本

样本: 【暂无】信息完整度: 
典型用户: 0

仪器种类:

 原子力显微镜

样品台移动范围:

 100mm*100mm

样品尺寸:

 直径≤100mm,厚度≤20mm

定位检测噪声:

 ≤ 0.04 nm (High-resolution mode)

价格区间:
产地类别:

 进口仪器

1. 自动化功能

  • 高度集成自动化功能追求高效率检测

  • 降低检测中的人为操作误差



2. 可靠性

排除机械原因造成的误差

大范围水平扫描

采用管型扫描器的原子力显微镜,针对扫描器圆弧运动所产生的曲面,通常通过软件校正方式获得平面数据。但是,用软件校正方式不能完全消除扫描器圆弧运动的影响,图片上经常发生扭曲效果。
AFM5500M搭载了**研发的水平扫描器,可实现不受圆弧运动影响的准确测试。


高精角度测量

普通的原子力显微镜所采用的扫描器,在竖直伸缩的时候,会发生弯曲(crosstalk)。这是图像在水平方向产生形貌误差的直接原因。
AFM5500M中搭载的全新扫描器,在竖直方向上不会发生弯曲(crosstalk) ,可以得到水平方向没有扭曲影响的正确图像



3. 融合性

亲密融合其他检测分析方式

通过SEM-AFM的共享坐标样品台,可实现在同一视野快速的观察分析样品的表面形貌,结构,成分,物理特性等。

  •     通过分析AFM图像可以判断,SEM对比度表征石墨烯层的厚薄。

  •     石墨烯层数不同导致表面电位(功函数)的反差。

  •      SEM图像对比度不同,可以通过SPM的高精度3D形貌测量和物理特性分析找到其原因。

与其他显微镜以及分析仪器联用正在不断开发中。

 


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