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飞纳台式扫描电镜高分辨率版 Phenom Pro

Phenom Pro

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复纳科学仪器(上海)有限公司

荷兰

产品规格型号
参考报价:

面议

品牌:

飞纳

型号:

Phenom Pro

关注度:

10679

创新点:

颗粒统计分析测量系统

应用行业:

粉末冶金

产品介绍

第六代 Phenom Pro 放大倍数提升为 350,000 倍,分辨率优于 6 nm,30 秒快速得到表面细节丰富的高质量图像,可用于测量亚微米或纳米尺度的样品;飞纳高分辨率专业版 Phenom Pro 继承了飞纳电镜系列高分辨率、15 秒快速抽真空、不喷金观看绝缘体、全自动操作、2-3 年更换灯丝及防震设计等优点。


飞纳高分辨率专业版 Phenom Pro 可选配丰富的拓展功能选件,如 3D 粗糙度重建(3D Roughness Reconstruction)、纤维统计分析测量系统(FiberMetric)、孔径统计分析测量系统(PoreMetric)、颗粒统计分析测量系统(ParticleMetric)、超大视野拼图(Auto Image Mapping)、远程操作等。软件可以自动采集数据、处理图片。比如,纤维统计测量系统可以自动识别、测量纤维样品,而大视野拼图 则自动采集生成高分辨、大视野的样品全景照片,等等…


除此之外,还有各种各样的样品杯可供选择,这些样品杯使得样品的装载更加便利。无论是对于长轴状样品,还是生物材料,或者其它种类的材料,总有一款合适的样品杯可以提供**的解决方案。

pro.jpg

Phenom Pro 主要技术参数


光学放大
20 - 135 X
电子放大350,000 X
分辨率优于 6 nm
光学导航相机彩色
加速电压4.8 kV - 20.5 kV  连续可调
探测器BSD, SED (可选), EDS


颗粒统计分析测量系统


颗粒统计分析测量系统软件可以轻松获取、分析图片,并生成报告。借助该软件,用户可以收集到大量亚微米颗粒的形貌和粒径数据。凭借远超光镜的放大倍数,颗粒软件全自动化的测量,可以把工业粉末的设计、研发和品管提升到一个新台阶。

借助颗粒系统软件,用户可随时获得数据。因此,它加快了分析速度,并提高了产品质量。


台式扫描电镜在粉末冶金领域的应用


1. 粉体形貌、粒度观察(<10000×,低压 SED)

2. 粉体粒度统计(使用飞纳电镜软件-颗粒统计分析测量系统)

3. 烧结件缺陷检查(使用飞纳电镜软件-超大视野自动全景拼图)

4. 成品表面质量检查+杂质判定(扫描电镜+能谱)

5. 脱脂前后形貌观察

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Phenom Pro

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