博曼X射线膜厚测试仪分析:

元素范围:铝13到铀92。
x射线激发能量:50 W(50 kv和1 ma)钨靶射线管
探测器:SDD
测量的分析层和元素:5层(4层镀层+基材)和10种元素在每个镀层成分分析的同时多达25元素
过滤器/准直器:4个初级滤波器,4个电动准直器(0.1 0.2 0.3 1.5mm)
聚焦:多固定聚焦与激光系统
数字脉冲处理:4096 多通道数字分析器与自动信号处理,包括X射线时间修正和防X射线积累
电脑:英特尔酷睿i5 3470处理器(3.2 ghz),8 gb DDR3内存,微软Windows 7专业64位等效
镜头:1/4 " cmos - 1280 x720 VGA分辨率
电源:150 w、100 ~ 240伏,频率范围47赫兹到63赫兹
工作环境:50°F(10°C)到104°F(40°C)小于98% RH,无冷凝水
重量:32公斤
内部尺寸:高:140毫米(5.5“),宽:310毫米(12),深:210毫米(8.3”)  140*310mm
外形尺寸:高:450毫米(18英寸),宽:450毫米(18),深:600毫米(24) 450*450mm
博曼X射线膜厚测试仪主要用于镀层或涂层厚度的测量,而且特别适合于对微细表面积或超薄镀层的测量。博曼PCB板台式膜厚测试仪采用真正的基本参数原理(FP)来测量厚度.