粉体行业在线展览
TFX-R1———光学膜厚测量设备
面议
睿励科学
TFX-R1———光学膜厚测量设备
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l 可量测多种材料薄膜
l 提供薄膜可靠和精确的厚度、折射率、成分比率和应力测量
l 输出产能高,具有较高的性价比
l 光斑尺寸更小
l 可量测范围更宽广,超厚膜和超薄膜量测能力更稳定
l 全新椭圆偏振光路设计
l 机械运动性能可靠,稳定性表现**
l 功能丰富、易用的软件和算法
l 全面支持工厂自动化要求
电脑组合体系VG42
UNI800C多物料配料控制仪
在线HPXRF检测设备
PicoFemto扫描电镜原位液体-电化学测量系统
金属称重检测一体机
片式电容四参数测试机
0~10%糖度
三路浮子流量计 MFC-3F
Oilwear 在线油液清洁度检测仪
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计量螺旋