DPAI-VSDD-Pro 代表*⾼性能的X射线硅漂移探测器，可在极低的成形时间下实现高分辨率。该探测器能够以极⾼的能量分辨率实现极⾼的计数率应⽤，它的高性能、小尺寸使其在X荧光光谱分析中得到⼴泛的应⽤。

产品描述： 

● 125eV FWHM 分辨率 @ 5.9 keV                                

● ⾼峰背⽐: 15,000:1 

● 感光⾯积：20 / 30 / 50mm² × 450 μm 

● *⼤输⼊计数率：4000KCPS 

● USB接⼝, RS232接⼝, Ethernet 接⼝（1000M可选） 

● 纳秒级复位时间 

● 谱图刷新率1000次/秒 

● ⾃锁航空插座 

● IP地址、波特率等通讯参数可设置 

● ⽀持3种接⼝远程固件升级（⽆需断电） 

● ⽆需液氮制冷 

● 极限真空 10^-7Torr

产品应用： 

● X-Ray Fluorescence  X射线荧光光谱仪 

●  RoHS / WEEE Compliance XRF 

● OEM 及其特殊应⽤ 

●  在线分析检测 

●  科研

规格参数概述

准直器的使⽤ 

⼤多数探测器都装有内部准直器，以提⾼光谱质量。X射线在探测器有效区域边缘附近相互作 ⽤，可能会由于部分电荷收集⽽产⽣逃逸峰。 在某些应⽤中，这些逃逸峰会影响感兴趣信号。内部准直器将X射线限制在产⽣完整信号的有 效区域内。准直器可根据探测器类型改进峰背⽐（P/B）、消除逃逸峰和改善准直器⼲扰峰。