粉体行业在线展览
Mu 9660 封测段缺陷检测设备
面议
清软微视
Mu 9660 封测段缺陷检测设备
955
-多尺寸高精度缺陷检测:支持6"/8"晶圆(含碳化硅/Si/LT等材质),厚度覆盖150μm~1000μm;
-高吞吐设计:8英寸晶圆@2x镜达54WPH,6英寸@2x镜达100WPH;
-结合线阵扫描成像与实时对焦技术,确保成像清晰度与准确性>95%
-缺陷叠图分析:支持4次检测结果坐标对齐及正/背面数据关联,助力失效分析;
筷子称
UNI800C多物料配料控制仪
在体皮肤拉曼分析仪
在线HPXRF检测设备
BSD-PB(气液法)
佐竹搅拌扭矩测试仪
μBenchCAT 反应评价装置系列
PicoFemto扫描电镜SEM纳米力测量系统
电子天平
0~10%糖度
J-CONTROL雷达料位计JFMCW-80C0A1A1A4A1