粉体行业在线展览

产品

产品>

分析仪器设备>

测量/计量仪器

>PLM-100P圆偏光贴合角度/相位差/轴角度/液晶材料测试仪

PLM-100P圆偏光贴合角度/相位差/轴角度/液晶材料测试仪

PLM-100P圆偏光贴合角度/相位差/轴角度/液晶材料测试仪

直接联系

苏州千宇光学科技有限公司

江苏

产品规格型号
参考报价:

面议

品牌:

千宇光学

型号:

PLM-100P圆偏光贴合角度/相位差/轴角度/液晶材料测试仪

关注度:

171

产品介绍

一、产品介绍
测试对象:偏光片、双折射材料、离型膜、补偿膜

测试项目:1.补偿膜的波长分散性、面内补偿值Re、厚度方向补偿值 Rth
                    三维折射率、全波段透过率、光轴方向、预倾角 Beta;
                    偏光片的透过率(单体、平行、直交)、偏光度,色度(Lab)等

                     2.复合膜的贴合角测试:偏光片与波片(圆偏光)的贴合角、
                     相位差及全波段椭圆率

                     3.偏光片:吸收轴角度测试,透过轴角度测试
                      新开发功能:液晶盒厚、预倾角和扭曲角测试;液晶QWP的等效光轴及相位差
二、优势特点
                    1、可以测试0-20000nm的相位差范围 
                    2、可实现超低相位差测试,可解析Re为1纳米以内基膜的残留相位差
                    3、 高相位差测试,可对离型膜、保护膜等高相位差样品进行检测
                    4、搭载多波段光谱仪,检测项目涵盖偏光片各光学性能,高精密高速
三、规格参数

                   测量对象                   偏光片、相位差膜、光学膜
测试光斑3mm
轴角度测试范围0~180°,±90°
轴角度精度根据不同样品从 0.02°~0.05°
吸收轴测试精度 ≦0.02°
相位差测量重复性≤0.08nm
正面位相差读数分辨率 0.001nm
厚度方向标准位相差读 数分辨率  0.001nm 
RTH 厚度位相差精度1nm
测试波长范围400nm-800nm(可拓展)
测试波长*小间隔1nm 
补偿值测试范围0nm - 50000nm 
偏光度≦0.01%
选配锥光镜头:测试曲面样品;**零度起偏器:测试液晶QWP的等效光轴及相位差
光谱仪参数 波长精度:±0.2nm
光谱杂散光:<0.05%(400nm)
 信噪比:2000:1 
样品尺寸6 寸
本体尺寸1375px宽 1125px高 1750px
保修时间1 年
 增值服务新功能免费更新
注意事项:针对不带雾度及散射的样品,在测试透过率,偏光度等参数 时,可直接测得**值;在测试带雾度及散射的样品时,由于结 构上无法追加积分球,测得的透过率,偏光度等参数为相对值, 可根据其他仪器(例如分光光度计)去提取公差


产品咨询

PLM-100P圆偏光贴合角度/相位差/轴角度/液晶材料测试仪

PLM-100P圆偏光贴合角度/相位差/轴角度/液晶材料测试仪

苏州千宇光学科技有限公司

请填写您的姓名:*

请填写您的电话:*

请填写您的邮箱:*

请填写您的单位/公司名称:*

请提出您的问题:*

您需要的服务:

发送

中国粉体网保护您的隐私权:请参阅 我们的保密政策 来了解您数据的处理以及您这方面享有的权利。 您继续访问我们的网站,表明您接受 我们的使用条款

PLM-100P圆偏光贴合角度/相位差/轴角度/液晶材料测试仪 - 171
苏州千宇光学科技有限公司 的其他产品

FLOW

测量/计量仪器
相关搜索
关于我们
联系我们
成为参展商

© 2026 版权所有 - 京ICP证050428号