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独立散射测量系统
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独立散射测量系统
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REFLET 180S光学工作台适用于光斑检测或快速分析。REFLET 180S特别适用于 向后和向前的光散射特性，适用于所有类型的材料和物体。该系统能以光度和色度的测量材料的辐射波瓣中包含的光分布。此外，该系统还可以测量BRDF和BTDF，**展现了三维空间中任何表面散射入射光的方式。
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