这款日本 NPS 出品的电阻率测定器，采用行业通用的 4 探针法，专为半导体、液晶、光伏等行业的材料电阻率检测设计，可便捷、高精度地完成硅晶圆、LCD 基板、金属薄膜等样品的片电阻与体积电阻测量，覆盖从低电阻到高电阻的宽量程需求。

仪器核心基于超过 20 年的电阻率测量技术开发，具备成熟的电流极性切换测量功能，可有效抑制整流性误差，提升测量精度。每次测量启动时自动归零，配合自动量程功能，可根据样品特性自动设置最佳测量电流，减少人工操作误差，确保数据的准确性与稳定性。

针对半导体材料特性，仪器内置温度校正功能，可输入不同温度校正系数，消除环境温度对测量结果的影响；同时配备样品厚度校正功能，能根据样品厚度自动修正数据，适用于不同规格的硅锭、晶圆和薄膜基板检测。

设备操作界面直观，配备智能控制面板，支持丰富的设置选项，可实现测量值平均值显示与打印输出，也可通过数据接口将测量结果导出，方便数据记录与质量管理。桌面式紧凑设计，占用空间小，便于放置在实验室或产线旁使用，适配研发检测与生产质检场景。

广泛适用于硅锭制造、液晶面板基板生产、导电材料制造等领域，可用于晶圆制造过程中的产品检查、成膜工序质量监控、导电材料性能评估等环节，是半导体与电子材料行业的高精度电阻率检测工具。