粉体行业在线展览
Tornado 2100套刻测量设备
面议
苏大维格
Tornado 2100套刻测量设备
163
Tornado 2100是维普推出针对晶圆全自动光学关键尺寸及套刻测量设备,基于高分辨率的光学成像系统,进一步提升图形对比度以及减少过渡像素。搭配高性能的运动台,提高测量过程中定位效率,减少稳态抖动,以满足测量重复性的苛刻要求。Tornado 2100可用于前道制程中的关键尺寸及套刻精度的测量。
应用场景
针对4、6、8寸晶圆前道关键尺寸及套刻精度测量。
关键特性
同时兼容4、6、8寸Wafer,灵活方便
支持基于Recipe的自动测量
支持白光、RGB、UV多种波长照明及光学系统
支持灰度阈值、灰度变化率、直线拟合等多种线宽测量方法
多持非线性补偿功能
支持低对比度下的线宽测量
MiPrinter 连续生长3D微纳打印系统
Multi-μ 3DPrinter 高保真微纳3D打印系统
光伏投影扫描光刻系统 HJT-lithography systems
Vortex 2000
Tornado 3000晶圆全自动光学检测设备
Tornado 2100套刻测量设备
Tornado 2000晶圆全自动光学检测设备
STORM 2000SLH缺陷检测设备
FPD Mask缺陷检测
FlexAligner-R500
FlexAligner-P200&FlexAligner-P350
Nanocrystal 大幅面纳米光刻
TH-F120
BL-GHX-VK
A500
线性压电纳米位移台MF40-25A
InSight 软包电池透射X射线衍射仪
ParticleX TC
SuperSEM N10
SLS-LED-80B
Lyza 3000
在线浊度计
SCI300