粉体行业在线展览
FPD Mask缺陷检测
面议
苏大维格
FPD Mask缺陷检测
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STORM 2000SLV是维普针对于大尺寸Mask 基板开发的缺陷检测设备,适用于抛光板、铬板、均胶板中颗粒、针孔、脏污的检测。采用先进的光学系统,通过一次扫描可完成颗粒、针孔的识别检测。针对Mask Blank基板厂商,具备高精度、高效率、易使用等重大优势。
关键特性
可兼容RSP200、Nikon Case、水晶盒的开盒与自动上下板
基于明场+暗场的检测方式
pellicle面、glass面、膜框内外部检测区域可灵活设置
MiPrinter 连续生长3D微纳打印系统
Multi-μ 3DPrinter 高保真微纳3D打印系统
光伏投影扫描光刻系统 HJT-lithography systems
Vortex 2000
Tornado 3000晶圆全自动光学检测设备
Tornado 2100套刻测量设备
Tornado 2000晶圆全自动光学检测设备
STORM 2000SLH缺陷检测设备
FPD Mask缺陷检测
FlexAligner-R500
FlexAligner-P200&FlexAligner-P350
Nanocrystal 大幅面纳米光刻
电脑组合体系VG42
UNI800C多物料配料控制仪
在线HPXRF检测设备
PicoFemto扫描电镜原位液体-电化学测量系统
在体皮肤拉曼分析仪
金属称重检测一体机
BSD-PB(气液法)
佐竹搅拌扭矩测试仪
μBenchCAT 反应评价装置系列
便携式pH计 Pro2Go
电子天平
HTR